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Carroll, Michael R.
XANES and EXAFS study of Ar and Xe bearing SiO2 glasses / M.R. Carroll, E. Paris, and I. Davoli. - Bologna : [Compositori] : Società Italiana di Fisica, 1990. - P. 647-650 : 3 ill. ; 24 cm
Estr. da: 2nd European conference on progress in X-ray synchrotron radiation research : Rome, 2-6 october 1989 / edited by A. Balerna, E. Bernieri and S. Mobilio. - (Atti di conferenze = Conference proceedings / Società italiana di fisica ; 25). - In calce alla cop.: Editrice Compositori, Bologna. - Note sul contenuto: Riassunto in inglese
Altri autori: Paris, Eleonora | Davoli, Ivan
Parole chiave: Mineralogia | Vetri silicatici | Struttura pseudo cristallina | Analisi spettroscopica | High resolution X-ray absorption near-edge structure (XANES) | Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) | SiO2 | Ar | Xe
Classificazione: 549.6

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	S T. Misc. XII/71	00	Verifica disponibilità in sede