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Berti, Giovanni [fisico]
Analysis and composition of elementary shapes of X-ray diffraction peaks by means of the relational model / Giovanni Berti, Francesco Di Pisa, Andrea Rafanelli. - [Siena? : s.n., 1992?]. - P. 159-162 ; 24 cm
Estr. da: 30° congresso annuale Aica, Associazione italiana per l'informatica ed il calcolo automatico = [Aica] Annual conference : Siena, 25-27 settembre 1991 : atti = proceedings, vol. 1. - Riassunto in inglese
Altri autori: Di Pisa, Francesco | Rafanelli, Andrea
Parole chiave: Diffrazione di raggi X | Diffrattometria di polveri | Cristallografia strutturale | Modelli matematici relazionali | Elaborazione elettronica di dati | Grafica computerizzata
Classificazione: 548.830 285 575 6 [CDD]

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	S T. Misc. XIX/8	00	Verifica disponibilità in sede