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Feldman, Leonard C. [fisico]
Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer. - [185 ca.] c. : ill., diagr. ; 22x31
Fotocopia di vol. (esaurito in distribuzione) con questi dati catalografici: New York ; Amsterdam ; London : North-Holland, [c1986]. - XVIII, 352 p., [2] p. di tab. : ill. ; 24 cm. - ISBN 0-444-00989-2 . - Con tab. e indice analitico. - Donazione Giovanni Pratesi
Altri autori:
Mayer, James Walter [fisico]
Soggetti:
Corpi - Superficie - Proprietà fisiche - Testi per l'insegnamento
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Pellicole sottili (Fisica) - Testi per l'insegnamento
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Materiali - Analisi chimica - Metodi fisici
Classificazione:
530.417 507 11
[CDD]
Biblioteca
Codice
Collocazione
Inventario
Disponibilità
Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)
RT10EE
543. 08. FEL
001576
Verifica disponibilità in sede
Tipo:
102 - Monografia moderna |
Lingua:
ENG |
Paese:
US |
Codice:
XABPO0120983 |
MFN:
0214168
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© 1994-2016 NEXUS & IUAV
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Catalogo Collettivo Provinciale di Prato - Ultimo aggiornamento: 08-06-2024 23:48:31 - Schede in OPAC: 617320
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